4月28日，格创东智、腾讯云、TCL华星光电就华星自动缺陷分类系统（Auto Defect Classification，简称ADC）项目接受南方日报、上证报中国证券网、证券时报、第一财经、界面5家媒体记者团专访。
TCL华星光电工厂
2018年，格创东智、腾讯云联手，助力华星实现人工智能在AI判片的应用，全面承接t1，t2和 t6工厂ADC系统在一些工艺制程上的落地实施项目。ADC项目是液晶面板行业首个落地应用的人工智能自动缺陷分类系统。
面板属于精密仪器，对产品良率的要求非常高，但是面板的一些细微瑕疵微小，不容易被检测出来。过去，在华星流水线上，工业缺陷检测大都依赖人工判定，因此有一个专门的判片部门，员工盯着电脑看图。将AOI（自动光学检测）设备拍照的结果用人眼判别，根据缺陷形态对缺陷分类，以确定质量是不是达标，枯坐下来，并不好受。这个环节往往面临几个困扰，第一，招工特别难，人员培养需要时间，第二，人工判定准确率的稳定性尚有提高空间。
现在，在华星已上线一百多个算法模型，借助AOI设备和算法模型，犹如给产线装上了“眼睛”和“大脑”。通过AI技术进行缺陷识别，不仅大大提高缺陷检测效率，漏检和误判等问题也遁于无形。对比传统的人力判片方式，AI识别速度提升5-10倍，缩减人力50%。这是华星在使用腾讯云与格创东智联合开发的视觉检测后，生产过程中发生的一个明显变化。
使用ADC，异常拦截时间提早1-2小时，检测站点生产周期缩短60%
ADC产品是基于格创东智自主研发的天枢AI，用AI技术解决传统AOI复杂场景检测不足的智能应用工具。通过ADC，实现人工投入削减、判片效率提升、准确率改善、漏检率降低、综合效益提升等效益。
目前应用领域：半导体、芯片、纺织、汽车、太阳能等行业。
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